走向超值而極緻的 HI-FI電腦訊源（連載）

[justin31566]

請教bchsieh大魔王幫我解惑
單芯雙層遮罩線做同軸，有下麵幾種接法，我該用哪種好


1.正極只接單芯，兩邊的雙層遮罩只一端接地，另一端雙層遮罩都懸空，
ps，在我的系統上，只接單芯就能通，不要形成回路，
2.正極接單芯內層遮罩兩端接地，外層遮罩是單端接地（只接訊號來源）
3.正極接單芯外層遮罩兩端接地，內層遮罩是單端接地（只接訊號來源）
4.正極接單芯，兩層遮罩兩端都接地

[bchsieh]

單芯雙層遮罩線做同軸，有下麵幾種接法，我該用哪種好


1.正極只接單芯，兩邊的雙層遮罩只一端接地，另一端雙層遮罩都懸空，
ps，在我的系統上，只接單芯就能通，不要形成回路，
2.正極接單芯內層遮罩兩端接地，外層遮罩是單端接地（只接訊號來源）
3.正極接單芯外層遮罩兩端接地，內層遮罩是單端接地（只接訊號來源）
4.正極接單芯，兩層遮罩兩端都接地

justin31566兄您好，

小弟認為最好的接法是2。
如果用接法2不會有哼聲或是雜音，就可以不必使用接法1。

[justin31566]

justin31566兄您好，

小弟認為最好的接法是2。
如果用接法2不會有哼聲或是雜音，就可以不必使用接法1。

万分感谢 老兄的 的回复

[TEHWA]

請問各位前輩
剛剛看明緯的網頁
發現MSP系列有支援並連的功能
不知有沒有大大試過
差異是否可輕易耳聞
感謝

[bchsieh]

感謝Higuma兄慷慨出借「全新未拆封」ifi iPower 12V與明緯MES30。
由於時間關係，目前先測量雜訊頻譜。
其他的測試，必須等到月底再進行。

ifi iPower 和 明緯MES30 12V在1A電流負載下的音頻範圍雜訊，
reference指的是測量儀器無輸入時的底噪：
1A_load.png

ifi iPower在無負載和1A電流負載的差別：
ifi_ipower_12V.png

明緯MES30在無負載和1A電流負載的差別：
MES30A-3P1J_12V.png

ifi iPower在水火正反向，1A負載時的差別：
ifi_ipower_ln_test.png

dBV轉Vrms的網頁：
http://www.sengpielaudio.com/calculator-db-volt.htm

另外ifi有指出要精確測量iPower雜訊，必須插在隔離變壓器上。
小弟的儀器輸入是平衡隔離的，有沒有使用隔離變壓器也許沒太大差異。
但之後小弟會把iPower接上隔離變壓器再測量一次。
ps. 這也就表示，使用iPower，必須搭配隔離變壓器才能發揮低雜訊的功力？

[dragonlch]

MEAN WELL/明纬MSP-600-12可否加入战团？

[bchsieh]

MEAN WELL/明纬MSP-600-12可否加入战团？

小弟沒有MSP-600-12。
如果可以借得到的話，當然可以加入測試行列。

另外，上面的測試都是在非屏蔽環境測量，所以有部分60Hz和其諧波是來自於空間中的雜訊，而非來自於電供本身。
所以，這些測試圖在另外一方面也顯示了電供和DC線的屏蔽設計的好壞。
這反映了實際使用情況下的雜訊，畢竟沒有用家會將電供以及直流電源線另外做屏蔽。

等月底，小弟會看看能不能做一個電供測試專用的屏蔽罩，再把所有的測試重做一次看看結果。
另外還會做transient response等動態測試，因為這是除了底噪以外，另一個檢視電供好壞的重要參數。
而且小弟認為transient response是聲音密度的關鍵。

[Higuma]

我預期msp600的瞬態反應應該特別突出，但噪訊會高多少就是關鍵了，

不過還是要看有無sample能供測試使用。

（某位堅持科學 高喊進步主義的真正左派信徒是不是應該貢獻一下？）

另外謝兄，額外加一組一般3C的小黑adapter當基準點如何？

無訊號的基準，參考價值不大，只能表示儀測的精度是足夠高的。

[chinpunto]

請問各位前輩
剛剛看明緯的網頁
發現MSP系列有支援並連的功能
不知有沒有大大試過
差異是否可輕易耳聞
感謝

我有試過並聯，聲音比較集中，不並聯較寬鬆。
不過我覺得調音上，並聯的電源線用粗一點也可以改善。
最後是選擇是不並聯，方便用線分開調音。

[bchsieh]

我預期msp600的瞬態反應應該特別突出，但噪訊會高多少就是關鍵了，

不過還是要看有無sample能供測試使用。

（某位堅持科學 高喊進步主義的真正左派信徒是不是應該貢獻一下？）

另外謝兄，額外加一組一般3C的小黑adapter當基準點如何？

無訊號的基準，參考價值不大，只能表示儀測的精度是足夠高的。

Higuma兄，

小弟會加一組3C級小黑電供的數據來當比對。
不過無訊號的基準也是必需的。
畢竟對於高精度測量來說，儀器的精度是否優於待測物是非常重要的。